Металлографический микроскоп ARSTEK X10

ARSTEK X10 — это универсальный металлографический микроскоп, который идеально подходит для проверки и ремонта плат и других объектов в области микроэлектроники и высокотехнологичного производства.

Микроскоп ARSTEK X10 оснащен передней панелью с клавишами для быстрой манипуляции и наблюдения за образцами.

Он предлагает идеальную микроскопическую систему освещения по Келеру, которая обеспечивает яркое и равномерное поле зрения. Высококачественная оптическая система и объективы с высокой числовой диафрагмой и большим рабочим расстоянием обеспечивают идеальное микроскопическое изображение.

Микроскоп ARSTEK X10 поддерживает различные методы наблюдения, включая отраженный и проходящий свет, а также только отраженный свет. Он оснащен тринокулярным наблюдательным тубусом с регулируемым углом наклона, что помогает снизить мышечное напряжение и дискомфорт при длительной работе.

Механизм фокусировки и точной настройки столика расположены для низкого положения руки, обеспечивая эргономичный дизайн и максимальный комфорт.

Микроскоп ARSTEK X10 имеет встроенную панель управления, которая позволяет легко переключать объективы одним нажатием кнопки для изменения увеличения.

Он также обладает большим предметным столиком и широким диапазоном перемещения, что обеспечивает удобство работы с крупными промышленными образцами.

Микроскоп ARSTEK X10 имеет большое рабочее расстояние и объектив с высоким разрешением, что позволяет работать с образцами печатных плат с большими зазорами по высоте, такими как электронные компоненты и полупроводники. Он также использует многослойную технологию нанесения покрытия для компенсации сферической и хроматической аберрации, обеспечивая четкость, хорошую цветопередачу и плоское изображение.

ARSTEK X10 — это научно-исследовательский металлографический микроскоп, который может реализовывать различные методы наблюдения, включая светлое поле, темное поле, фазовый контраст, флуоресценцию, поляризованный свет и другие. Он предлагает широкие возможности для точного контроля и исследований в различных областях науки и промышленности.